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檢測(cè)項(xiàng):外部目檢 檢測(cè)樣品:軍用電子元器件破壞性物理分析 標(biāo)準(zhǔn):1、GJB 4027A-2006 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 2、GJB 5914-2006 各種質(zhì)量等級(jí)軍用半導(dǎo)體器件破壞性物理分析方法 3、GJB 128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 4、GJB 360A-1996 電子及
檢測(cè)項(xiàng):內(nèi)部目檢 檢測(cè)樣品:軍用電子元器件破壞性物理分析 標(biāo)準(zhǔn):1、GJB 4027A-2006 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 2、GJB 5914-2006 各種質(zhì)量等級(jí)軍用半導(dǎo)體器件破壞性物理分析方法 3、GJB 128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 4、GJB 360A-1996 電子及
機(jī)構(gòu)所在地:河北省石家莊市 更多相關(guān)信息>>
檢測(cè)項(xiàng):靜態(tài)多點(diǎn)試驗(yàn) 檢測(cè)樣品:線加速度計(jì) 標(biāo)準(zhǔn):?jiǎn)屋S擺式伺服線加速度計(jì)試驗(yàn)方法 GJB 1037A-2004 單軸非陀螺式線加速度計(jì)IEEE標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)規(guī)范格式指南和檢測(cè)方法 IEEE Std 1293-1998 IEEE推薦使用的線加速度計(jì)精密離心機(jī)測(cè)試規(guī)范 IEEE std 836-2009
機(jī)構(gòu)所在地:北京市 更多相關(guān)信息>>
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